커넥터는 전자 시스템 부품 간의 안정적이고 효율적인 전기적 연결을 제공하기 때문에, 커넥터가 사용되는 최종 전자 장치의 품질, 기능 및 신뢰성에 매우 중요합니다. 본 애플리케이션은 가공 후 하우징에 삽입되기 전 커넥터 핀 검사에 중점을 둡니다.
어떤 제조상의 결함이 발생합니까?
다른 정밀 제조 공정과 마찬가지로 가공 핀은 최종 전자 장치의 품질, 기능 및 신뢰성에 영향을 미치는 다양한 결함이 발생할 수 있습니다. 이러한 결함에는 다음이 포함됩니다.
핀은 전자 회로에 매우 중요합니다. 결함이 발생하면 전기적 신뢰성이 손상되고, 해당 핀이 사용되는 전자 장치의 고장을 일으키며, 장치의 수명을 단축시키고, 단락, 과열 또는 화재와 같은 안전 위험을 초래할 수 있습니다. 제조업체는 값비싼 리콜을 피하고 업계 표준을 준수하기 위해 이러한 결함을 예방해야 합니다.
하지만 핀 결함은 유형과 위치가 다양하기 때문에 감지하기 어려울 수 있습니다. 기존의 머신 비전 시스템은 수백 개의 수작업 규칙을 프로그래밍해야 하기 때문에 프로그래밍된 매개변수와 일치하지 않는 새로운 결함이나 가변적인 결함을 감지하지 못합니다.
핀은 대비가 낮고 반사 표면이 있는 금속으로 만들어져 결함을 식별하기 어렵습니다. 기존의 머신 비전 시스템은 선명한 이미지를 캡처하고 실제 결함, 반사 표면, 그리고 배경을 구분하는 데 어려움을 겪어, 결국 결함을 놓치거나 잘못된 불량 판정을 초래합니다.
솔루션
UnitX의 AI-powered 검사를 통해 다른 솔루션에서는 발견할 수 없는 기계 가공 핀 결함을 효과적으로 감지할 수 있습니다.
첫째, OptiX 이미징 시스템은 가공된 핀을 조명하고 이미징합니다. 그런 다음 CorteX Central AI 플랫폼은 가공된 핀 결함에 대해 학습됩니다. 마지막으로, 이러한 AI 모델은 CorteX Edge 결함을 인라인으로 감지하고 분류하는 추론 시스템입니다.
UnitX 가공된 핀 검사를 위해서?
OptiX 반사율은 최소화하고 결함 가시성은 극대화하여 뛰어난 이미지를 제공합니다. 32개의 독립적으로 제어 가능한 조명 광원을 갖추고 있으며, 소프트웨어를 통해 금속 핀 표면과 다양한 결함에 맞춰 최적화할 수 있습니다. 계산 이미징 기능을 활용하여 여러 장의 사진을 촬영하고 고반사 금속 핀 표면으로 인한 핫스팟을 제거할 수 있습니다. 또한, 조명 돔 디자인은 투사광의 매우 날카로운 입사각을 지원하여 아주 작은 결함에도 그림자를 드리워 가시성을 높여줍니다.
CorteX는 무작위적이고 복잡한 결함을 정확하게 감지합니다. 위치 및 방향의 변동성을 자동으로 정규화하고 픽셀 수준까지 결함을 인식합니다. 불량품 및 제품 낭비로 이어지는 오탐(false positive)을 줄여줍니다.
CorteX는 빠른 AI 모델 개발, 배포 및 반복을 지원합니다.CorteX AI 모델은 샘플 효율성이 뛰어납니다. 즉, 새로운 결함 유형에 대해 학습하는 데 몇 개의 이미지만 필요합니다.
UnitX 수율을 최적화합니다. CorteX에서는 품질 기준을 조정하고 변경 사항을 생산에 적용하기 전에 수율에 미치는 영향을 시각화할 수 있습니다. 모든 검사 데이터는 제조업체가 분석하고 공정 개선 영역을 파악할 수 있는 단일 중앙 플랫폼에서 참조할 수 있습니다.
UnitX 100% 인라인 검사를 신속하게 제공합니다. OptiX 밝은 LED와 1m/s의 빠른 파리 포획 속도를 갖춰 고속 이미징이 가능합니다. CorteX Edge 최대 100MP의 높은 추론 속도를 지원하여 OK/NG 결정을 빠르게 출력하고, 모든 주요 PLC, MES, FTP 시스템과의 통합을 통해 해당 결정을 원활하게 전달합니다.
사용하는 제조업체 UnitX 가공된 핀 검사를 자동화하면 다음이 가능합니다.
- 커넥터 제조 공정 초기에 결함을 식별하여 재작업 비용을 절감합니다.
- 전자 기기의 기능, 안정성 및 안전성을 방해하는 품질 누출을 방지합니다.
- 기존 머신 비전에서 흔히 발생하는 잘못된 거부율을 최소화하여 폐기물을 줄입니다.
- 생산 및 품질 데이터를 분석하여 프로세스 개선 기회를 찾아 수율을 향상시킵니다.
- 생산 속도에 맞춰 검사를 자동화하여 제조 처리량을 늘립니다.